適用于MFP-3D原子力顯微鏡的電化學(xué)腔室 參考價(jià)：面議
利用電化學(xué)腔室（EC腔室），可以對(duì)金屬和其他材料的沉積、氧化、腐蝕和傳質(zhì)進(jìn)行原位研究。這個(gè)腔室可以在密封的環(huán)境下操作，并且能夠加熱至60C（適用于所有MFP-3...
納米級(jí)依時(shí)性介電擊穿（NanoTDDB） 參考價(jià)：面議
利用NanoTDDB，能夠?qū)崿F(xiàn)介質(zhì)擊穿表征的納米級(jí)精度。操作時(shí)可以施加恒定的電壓，或逐漸增加的偏壓（達(dá)220 V），同時(shí)利用一個(gè)導(dǎo)電的原子力顯微鏡探針來(lái)監(jiān)測(cè)電流...
電化學(xué)應(yīng)變顯微術(shù)（ESM） 參考價(jià)：面議
ESM是一種新穎的掃描探針顯微術(shù)，它能夠以一種新奇的分辨率，探測(cè)電化學(xué)活性和固體中的離子流動(dòng) （適用于除了MFP-3D Origin型號(hào)以外所有MFP-3D原子...
掃描隧道顯微術(shù)（STM） 參考價(jià)：面議
利用MFP-3D原子力顯微鏡對(duì)導(dǎo)電樣品進(jìn)行高分辨率成像時(shí)，掃描隧道顯微術(shù)非常有用。詢(xún)價(jià) 增加到詢(xún)價(jià)列表 在詢(xún)價(jià)列表中查看此產(chǎn)品
掃描微波阻抗顯微鏡（sMIM） 參考價(jià)：面議
利用sMIM，可以對(duì)金屬、半導(dǎo)體和絕緣材料進(jìn)行納米級(jí)的介電常數(shù)和導(dǎo)電性成像。該技術(shù)適用于所有MFP-3D 原子力顯微鏡（除了Origin型號(hào)以外）。詢(xún)價(jià) 增加到...
導(dǎo)電原子力顯微鏡（ORCA） 參考價(jià)：面議
Cypher原子力顯微鏡的 ORCA 模式可用于導(dǎo)電原子力顯微鏡成像和I-V測(cè)量。其標(biāo)準(zhǔn)模塊能夠測(cè)量約1 pA至20 nA的電流。此外還提供其他電流范圍，以及雙...
壓電響應(yīng)力顯微術(shù)（PFM） 參考價(jià)：面議
利用壓電響應(yīng)力模式，我們能夠通過(guò)針尖對(duì)樣品施加高偏壓值（上至220 V，在MFP-3D Infinity上，上至150 V），以便對(duì)壓電材料（包括鐵電體和多鐵性...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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